x射線熒光鍍層測(cè)厚儀FISCHER XDLM237
德國(guó)菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237也稱為X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀,采用手動(dòng)或自動(dòng)方式,菲希爾測(cè)厚儀FISCHER測(cè)厚儀,測(cè)量和分析微小結(jié)構(gòu)的印刷線路板、電氣元件及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。
菲希爾測(cè)厚儀FISCHER測(cè)厚儀
x射線熒光鍍層測(cè)厚儀FISCHER XDLM237
德國(guó)菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:
1,測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍零部件
2,測(cè)量微小區(qū)域上的薄鍍層
3,測(cè)量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
4,全自動(dòng)測(cè)量,如測(cè)量印刷線路板